DIN 41850-4-1976 薄膜集成电路.第4部分:材料、厚膜电阻成分的评价方法
作者:标准资料网
时间:2024-05-17 03:54:50
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【英文标准名称】:Integratedfilmcircuits;material,methodsforjudgementofthickfilmresistorcompositions
【原文标准名称】:薄膜集成电路.第4部分:材料、厚膜电阻成分的评价方法
【标准号】:DIN41850-4-1976
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1976-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:集成电路;材料;动量
【英文主题词】:integratedcircuits;materials;momentum
【摘要】:Integratedfilmcircuits;material,methodsforjudgementofthickfilmresistorcompositions
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:3P.;A4
【正文语种】:德语
【原文标准名称】:薄膜集成电路.第4部分:材料、厚膜电阻成分的评价方法
【标准号】:DIN41850-4-1976
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1976-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:集成电路;材料;动量
【英文主题词】:integratedcircuits;materials;momentum
【摘要】:Integratedfilmcircuits;material,methodsforjudgementofthickfilmresistorcompositions
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:3P.;A4
【正文语种】:德语
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