ASTM F 1527-1994 应用硅标准参考物质和标准硅片标准和控制硅电阻率测量仪表的标准导则
作者:标准资料网
时间:2024-05-26 15:09:24
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【英文标准名称】:StandardGuideforApplicationofSiliconStandardReferenceMaterialsandReferenceWafersforCalibrationandControlofInstrumentsforMeasuringResistivityofSilicon
【原文标准名称】:应用硅标准参考物质和标准硅片标准和控制硅电阻率测量仪表的标准导则
【标准号】:ASTMF1527-1994
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1994
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:控制画图;控制硅电阻率测量仪表;涡流仪;四个;汞探测;点探测;点探测法;表准材料;表准片材;表准片材的电阻率;半导体分析仪;薄片电阻;硅标准参考物质;硅半导体;半导体;电阻;导则;校准;探测法
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:应用硅标准参考物质和标准硅片标准和控制硅电阻率测量仪表的标准导则
【标准号】:ASTMF1527-1994
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1994
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:控制画图;控制硅电阻率测量仪表;涡流仪;四个;汞探测;点探测;点探测法;表准材料;表准片材;表准片材的电阻率;半导体分析仪;薄片电阻;硅标准参考物质;硅半导体;半导体;电阻;导则;校准;探测法
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:
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